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膜厚測試儀的常見故障及解決方法分享

更新時間:2022-03-28   點擊次數(shù):2085次
  膜厚測試儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
  今天小編要與大家分享的是膜厚測試儀的常見故障及解決方法:
  1、示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定
  致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的要素主要是來自工件本身的資料和構(gòu)造的特別性,再者,被測件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的重要要素,其探頭對那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而,解決此種毛病的關(guān)鍵即是:測量前鏟除被測件觸摸面的塵埃、細(xì)屑、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。再有即是在進行體系調(diào)零時,所使用的基體外表也有必要是清洗、潤滑的。
  2、屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)
  簡略要素即是查看電池是不是電量足夠,斷定電池電量足夠后如發(fā)現(xiàn)測量仍是不顯現(xiàn)數(shù)值,可以思考是不是有測頭及連線有松動、斷開或觸摸不良景象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等要素影響。在實際作業(yè)中就碰到過因測頭使用不當(dāng)被化學(xué)物品腐蝕,致使儀器不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)的景象。
  3、測量成果差錯大
  探頭的放置方法對測量有很大影響,在測量中應(yīng)使探頭與被測件外表堅持筆直。而且探頭的放置時刻不宜過長,避免形成基體本身磁場的攪擾。測量時不要拖動探頭,由于這么不僅對探頭會形成磨損,也不會得到的測量成果。別的,基體金屬被磁化、基體金屬厚度過小、工件曲率過小、測量基座外表有銹蝕、測量現(xiàn)場周圍有電磁場攪擾等要素都有也許致使測量成果的反常,假如離電磁場十分近時還有也許會發(fā)作死機景象。

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